1 Terms
Home > Bransch/domän > Semiconductors > Test equipment
Test equipment
Industry: Semiconductors
Lägg till ny termContributors in Test equipment
Test equipment
pseudo - slumpmässiga mönster generator (PRPG)
Semiconductors; Test equipment
PRPGs är LFSRs som ibland används på främre delen av BIST motorer för att generera pseudo-slumpmässiga mönster att presenteras för en krets under testet.
system på ett chip (SOC)
Semiconductors; Test equipment
Praxis att integrera en eller flera processorkärnor, inbäddade minnen, perifera gränssnitt och ibland blandad signal kretsar på ett enda chip till ett helt komplett (eller nästan) system.
verilog ändra dump (VCD)
Semiconductors; Test equipment
Utdata från Verilog används för generering av mönster. Denna utgång har vanligtvis översättas till ett format som kan läsas av en testare. Denna översättningsprocess är vanligen utförs av flera ...
wafer nivå burn i (WLBI)
Semiconductors; Test equipment
Wafer är nivå bränna en tillverkningsteknik där en viss produkt bränns i som full wafers att dra nytta av massiv parallellism och högre temperatur acceleration faktorer.
vågform generation språk (WGL)
Semiconductors; Test equipment
WGL är de-facto standard för generering av ATPG och vektor. De flesta mönster utvecklingsverktyg stöder WGL och det finns tredje part verktyg som är specialiserade på omvandlingen av WGL till olika ...
direkt minnesåtkomst (DMA)
Semiconductors; Test equipment
När det gäller test hänvisar DMA till en arkitektur som tillåter direkt adressering och observerbarhet inbäddade minnen.
strobe
Semiconductors; Test equipment
En signal om att ur en logik stat i en spärr eller D flip flop. i en halvledare test, en kant strobe registrerar en jämförelse resultat vid en angiven instant i cykeln, en fönster strobe registrerar ...
