3 Terms
Home > Bransch/domän > Semiconductors > Test equipment
Test equipment
Industry: Semiconductors
Lägg till ny termContributors in Test equipment
Test equipment
Källa ström (aktiv belastning)
Semiconductors; Test equipment
Konventionella nuvarande flöde av en DUT med aktiva lasten som nedrullningsbara.
go/no-Avbryt test
Semiconductors; Test equipment
Ett test med övre och nedre gränser som stannar på det första felet utan att utföra någon diagnostik, karakterisering eller faktiska mätningar än gräns kontroll.
Nyquist Samplingsteoremet
Semiconductors; Test equipment
En sats som påstår att om du prova en signal vid hastighet f, samplade signalen innehåller ingen information om signaler med frekvens komponenter ovan f/2.
rånet
Semiconductors; Test equipment
En tunn, polerad skiva av monolitiska halvledare som en array av die tillverkas.
Spike
Semiconductors; Test equipment
En övergående störning av en elektrisk krets som orsakas av, exempelvis laddas variationer på linjen AC power.
avbrottsvektor
Semiconductors; Test equipment
En typ av avbrott som omedelbart pekar en dator till en ny serie av instruktioner.
kant upptäckt
Semiconductors; Test equipment
En teknik som lokaliserar en kant genom att undersöka en bild för plötsliga förändringar i pixelvärden.
